工業步入式高溫老化房

工業步入式高溫老化房用途：

　　該老化房主要是針對汽車電子、通訊產品、PCB、消費電子等產品老化的壽命測試；電腦板、接口卡、插卡、手機電源產品的老化測試；機頂盒、高速公路、安防產品的燒機；需要經過集裝箱海運出口的產品老化（模擬集裝箱內的高溫環境）

　　工業步入式高溫老化房性能標準：

1)在美軍標MIL-STD-810D，4.4.1試驗條件允差中規定“試樣*被空氣包圍(必要的支承點除外)，試驗區測區測理系統的溫度和包圍試件各處的溫度梯度應分別在試驗溫度的±2℃以內和不超過每米1℃或總的zui大值為2.2℃(試件不運作)"此標準中用±2℃的溫度偏差和1℃/M的溫度梯度來要求箱內運作空間的溫度均衡性。
　　
　　2)在美軍標MIL-STD-202F，2.2.1及MIL-STD-883C，4.5.8中要求運作區空間內任一點的溫度，在給定時間內偏離基準點不超過±3℃(即為容許偏差)。
　　
　　3)在IEC68號出版物及GB2423中，對試驗箱運作空間的溫度均衡性要求以“容差"即對標稱溫度的容許偏差表述。對容差大小，在高溫箱中規定為±2℃，在低溫箱中規定為±3℃。
　　
　　4)在IEC68-2-3，2.1的注中“溫度±2℃的容差是由于考慮到有測量的誤差，緩慢的溫度變化和運作空間的溫度波動度等"。在IEC216號出版物第四篇老化烘箱中，定義“溫度偏差"是“由于溫度波動度和溫度梯度組合而成的誤差"。
　　
　　5)GB／T5170•21996《電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法溫度試驗設備》，規定“溫度偏差"為試驗箱溫度性能指標的*檢定項目。溫度偏差的檢定方法是：當運作空間指示點溫度*次達到標稱溫度后穩定2h。測量各測試點溫度，每2min記錄一次各點的溫度，在30min內共測量15次。運作空間各測試點的實測zui高溫度和實測zui低溫度與標稱溫度的上、下偏差定為設備在該標稱溫度下的溫度偏差。